外校電(dian)子天平和(he)內校電(dian)子天平的(de)區(qu)別在(zai)哪(na)裏(li)？

　　當電(dian)子分(fen)析(xi)天平的(de)安裝、移動(dong)位置(zhi)和(he)實(shi)驗室(shi)溫度發(fa)生(sheng)明(ming)顯(xian)變化時(shi)，應進(jin)行天平校(xiao)準(zhun)，以確(que)保(bao)電(dian)子天平能(neng)夠(gou)適(shi)應(ying)當(dang)地的重力加(jia)速(su)度和環(huan)境(jing)。電子天平分(fen)為外校電(dian)子天平和(he)內校電(dian)子天平。

　　

　　內校電(dian)子天平是(shi)指在(zai)電子天平內部(bu)裝有(you)標(biao)定(ding)砝(fa)碼，由電(dian)機(ji)驅(qu)動(dong)，內置(zhi)舉(ju)重裝置(zhi)的(de)電(dian)子天平。當(dang)需要(yao)校準(zhun)時，只(zhi)需按(an)下校準(zhun)鍵即(ji)可(ke)完成(cheng)校準(zhun)過(guo)程(cheng)。

　　

　　外校電(dian)子天平是(shi)先按校準(zhun)鍵手動(dong)校(xiao)準(zhun)，然後(hou)將(jiang)標(biao)準(zhun)砝碼放在(zai)電子天平的(de)秤盤上(shang)，重量存儲在(zai)單獨(du)的(de)重量箱(xiang)中。

　　

　　電(dian)子天平的(de)稱量精度與(yu)內標(biao)和(he)外標(biao)無(wu)關，天平的(de)精度取(qu)決於砝碼的等級和(he)電(dian)子天平傳(chuan)感器的(de)質量。壹般(ban)新(xin)出廠的電(dian)子天平外重和內重的等級是(shi)壹樣(yang)的(de)，沒有(you)區(qu)別。但隨(sui)著(zhe)使(shi)用(yong)時(shi)間(jian)的(de)延(yan)長，外重的損失壹般(ban)大(da)於內重：因為外重會受(shou)到灰(hui)塵、酸堿(jian)腐(fu)蝕(shi)等外在(zai)因素(su)的(de)影(ying)響，有(you)時(shi)指紋(wen)重達(da)幾十(shi)微克(ke)，如果保存(cun)不當(dang)，可能(neng)會丟(diu)失。因此，如果電子天平未(wei)能(neng)通過(guo)年(nian)檢(jian)，則需要(yao)更換新的(de)砝碼。

　　

　　但是(shi)內置(zhi)砝(fa)碼的電(dian)子天平通常不會出(chu)現(xian)上(shang)述情(qing)況(kuang)，可(ke)以通過(guo)修(xiu)改(gai)天平的(de)校準(zhun)程序(xu)參數(shu)來(lai)糾(jiu)正(zheng)偏差(cha)，但帶(dai)內部(bu)校準(zhun)功(gong)能(neng)的電(dian)子天平價(jia)格要(yao)高出20%左(zuo)右比(bi)外部(bu)校準(zhun)天平。

　　

　　壹般(ban)來(lai)說(shuo)，外校電(dian)子天平的(de)操(cao)作(zuo)比(bi)較(jiao)復雜(za)，對(dui)砝碼的要(yao)求比(bi)較(jiao)嚴(yan)格。如果砝碼有(you)灰(hui)塵或磨(mo)損(sun)，會(hui)影(ying)響(xiang)電子天平的(de)校準(zhun)，但可(ke)選(xuan)擇外部(bu)校準(zhun)方式(shi)，用(yong)戶可以使(shi)用(yong)不(bu)同質量的砝碼進(jin)行校(xiao)準(zhun)；內部(bu)校準(zhun)方法操(cao)作(zuo)簡單。雖然(ran)價(jia)格較(jiao)高，但(dan)避(bi)免了不(bu)同標(biao)準(zhun)重量帶來(lai)的(de)誤(wu)差(cha)。用(yong)戶可以根(gen)據自己的情(qing)況(kuang)進(jin)行選(xuan)擇。