千分之(zhi)壹(yi)電子(zi)天平的(de)操(cao)作(zuo)說(shuo)明

　　千分之(zhi)壹(yi)電子(zi)天平是(shi)實(shi)驗室的(de)常規(gui)設備(bei)。壹(yi)般(ban)應用於(yu)生(sheng)物(wu)、化學(xue)、能源、環(huan)境、糧食(shi)農業(ye)、食品(pin)、環(huan)境、造紙(zhi)、紡(fang)織(zhi)、金(jin)屬(shu)加(jia)工(gong)、機(ji)械制(zhi)造等領(ling)域(yu)。在(zai)工(gong)礦(kuang)企業(ye)、大學(xue)研(yan)究(jiu)院、科(ke)研(yan)機(ji)構(gou)、質(zhi)量檢測(ce)單位等(deng)單位實(shi)驗室中，用於(yu)產品的(de)定量分析(xi)試驗。

　　千分之(zhi)壹(yi)電子(zi)天平的(de)操(cao)作(zuo)步(bu)驟：

　　(1)接通電源並預熱使天平處於備(bei)用(yong)狀態。

　　(2)打(da)開天平開關(guan)，使天平處於零(ling)位，否(fou)則按去皮(pi)鍵。

　　(3)放(fang)上(shang)器(qi)皿(min)，讀取數值並記錄，用(yong)手(shou)按去皮(pi)鍵清(qing)零，使天平重(zhong)新(xin)顯(xian)示(shi)為(wei)零(ling)。

　　(4)在(zai)器(qi)皿(min)內(nei)加(jia)人(ren)樣(yang)品至(zhi)顯(xian)示(shi)所(suo)需重(zhong)量時(shi)為(wei)止(zhi)，記(ji)錄(lu)讀數，如(ru)有打印機可按打印(yin)鍵完成(cheng)。

　　(5)將器(qi)皿(min)連(lian)同(tong)樣(yang)品壹(yi)起拿出。

　　(6)按天平去皮鍵清(qing)零，以備(bei)再用。

　　安裝時(shi)應確保(bao)天平放置在(zai)平穩無(wu)振(zhen)動的(de)臺面上(shang)，並(bing)進行(xing)初(chu)始校(xiao)準。在(zai)使用(yong)過程(cheng)中(zhong)應定期(qi)進行(xing)校(xiao)準以保(bao)證測量精度。

　　千分之(zhi)壹(yi)電子(zi)天平是(shi)壹(yi)種(zhong)高(gao)精度、快(kuai)速(su)穩定的(de)實(shi)驗室天平，具(ju)有(you)廣泛的(de)應用範(fan)圍(wei)和(he)重(zhong)要(yao)的(de)實(shi)用(yong)價值。在(zai)使用(yong)過程(cheng)中(zhong)應註意(yi)遵守相關操(cao)作(zuo)規程(cheng)和(he)註意(yi)事項(xiang)以確保(bao)測(ce)量結果(guo)的(de)準確性(xing)和(he)可靠性(xing)。